FLIR—当仪器仪表进入红外热像+时代

尊敬的业界同仁:

您关注的《当仪器仪表进入“红外热像+”时代》的主题网络会议今天下午14:00即将召开,如您还未报名,请点击此处快速报名

随着红外成像技术进步和制造成本降低,FLIR已经将红外热像仪功能加入到传统测试测量仪表中,通过先定性分析后定量分析,帮助维护人员、维修电工、检测人员、监测经理等,快速定位故障点,在排除故障的过程中不再走弯路,大幅提高工作效率。

2017年5月11日14:00-15:00,来自美国菲力尔(FLIR)的专家将在线为您细说如何使用IGMTM红外成像引导测量技术及 3 款相关的仪表——红外成像万用表 DM284、红外成像万用表 CM174、红外成像温湿度计 MR176来迅速查明故障原因,正确掌握故障点,保证设备正常运行。抓紧时间,和FLIR一起走进“红外热像+”的时代!

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议    题: 当仪器仪表进入“红外热像+”时代 注册参会赢好礼!

礼品
日    期: 2017年5月11日   添加至日历
时    间: 14:00 – 15:00 (GMT+08:00)   1小时   中文会议
 
本期会议嘉宾:
李锋先生 沈栋先生  美国菲力尔(FLIR)店面产品全国销售经理

从事仪器仪表销售工作已有八年,对于各类红外测温类产品、电测量仪表以及环境类仪表均有丰富的经验。本人亲身经历了仪器仪表行业在中国的飞速发展,充分了解相关产品的指标特性、行业应用以及业界动态等信息。希望可以和大家一起探讨相关感兴趣的话题。 具有红外热像仪ITC 一级证书。
 
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